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理学 ZSX Primus 波长色散型XRF Be - U元素分析
ZSX Primus/ZSX Primus IVi采用下照射方式,通过搭载无盖样品盒机构最多可装填104个样品,从而进行多个样品的连续测量。可在观察样品图像的同时进行分析位置的指定和Mapping
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理学 ZSX Primus 波长色散型XRF 微量样品分析
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波散型XRF岛津XRF-1800型 可检测土壤
岛津波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800型可以用在土壤行业领域,用来检测土壤,可完成有害元素项目。符合多项行业标准。 为了防止土壤污染,保护生态环境,国标GB15618-1995规定了土壤中
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理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF Be-U元素分析
分析范围: Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigaku ZSX Primus以各种各样的
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理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF 微量样品分析分析
卓越的轻元素XRF表现与倒置光学为可靠性的优越ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长
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理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF 极地光谱元素检测
仪器简介: ZSX Primus Ⅳ是理学公司全新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗
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XRF-1800型岛津波散型XRF 适用于成像分析
岛津波散型XRFXRF-1800型可用于测定稀土元素矿石,适用于成像分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于地矿/有色金属行业领域。 仪器简介: 可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需
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岛津XRF-1800型波散型XRF 应用于纳米材料
岛津波散型XRFXRF-1800型可以用在高分子材料行业领域,用来检测太阳能玻璃镀膜,可完成合金分析 项目。符合多项行业标准。 铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳电池具有生产成本低、污染小、不衰退、弱光性
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岛津XRF-1800型波散型XRF 应用于空气/废气
岛津波散型XRFXRF-1800型可用于测定空气,适用于PM2.5,空气悬浮物项目。并且参考多项行业标准。可应用于空气/废气行业领域。 可见的污染并不十分可怕,最可怕的是在不知不觉中就受到污染
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岛津XRF-1800型波散型XRF 岛津XRF对塑料添加剂的分析
岛津波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800型适用于添加剂项目,参考多项行业标准。可以检测塑胶等样品。可应用于塑料行业领域。 岛津 XRF-1800 是一款具有灵活多功能的大型科研生产一体机。其
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